MOS扁平封装集成电路测试夹具

所在地 中国 扬州
创建时间 06-06-06
更新时间 08-11-21
信息类型 产品库
语言 简体中文
详细信息

扁平封装集成电路测试夹具
该系列夹具供扁平封装的集成电路老化、测试、筛选作连结之用(间距1.27mm)。
产品型号及规格;
GLB2-18J

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